8.4鉴定准则

鉴定准则以对比基准和待评绝缘结构的电老化寿命为基础，基准绝缘结构在工频下具有较长的电老化寿命。长期试验用于激发局部放电引起的侵蚀作用。在热机循环和选择的诊断试验后进行该破坏性试验。

对限制于模拟槽中的线棒/线圈进行电压耐久性试验时，不应从试验设备中移出来，除非使用者确认移动不会破坏绝缘。

只有待评绝缘结构和基准绝缘结构采用相同的加热和冷却方法及相同的温度测试方法，才允许对待评结构和基准结构进行对比。例如，如果空心导体基准结构使用内部流体冷却[方法6.4c)]，但待评结构的线棒/线圈结构为实心导体，那么不能使用本部分鉴定待评结构，因为没有采用相同的冷却方法。对于温度循环控制，如果通过在绝缘上钻孔以插入温度传感器对基准结构进行测试，则绝缘电阻的方法不适用于待评结构。

电压耐久性试验可在环境温度或者其他任意温度下进行，如运行温度。只有待评和基准结构的试验温度在相同的温度范围内，才允许对待评和基准结构进行对比。

只有待评和基准结构的施加电压序列相同，才允许对待评和基准结构进行对比。电压序列定义为电压水平、每个电压水平的持续时间及它们的顺序。如GB/T.4-电压水平为施加线对地电压和额定电压之间的比率。基准和待评结构额定电压的差异应符合GB/T.4-规定的技术要求。

根据GB/T.4-简化评定方法的要求，对待评结构进行鉴定。GB/T.4-中的方法对比击穿时间的90%的置信区间，应至少5个试样击穿。对于线圈，如果一个边失效，如果失效边没有接地另一个边可以使用。

本部分不规定任何特定的电压序列但应满足三个条件：

--最小电压水平为2UN;

--对于逐步升压，在每步之间至少10h内最大电压增量为0.1UN;或者对于匀速升压，升压速率为0.01UN/h;

--使用选择电压水平序列，基准结构63%的击穿时间应大于h。

典型绝缘结构在2.5UN下预计有大于h的寿命。

在电压耐久性试验期间可能损坏应力控制材料(防晕材料)，允许对材料采取预防或者修复损坏的所有措施。沿端部绕组表面的闪络不是绝缘的击穿，因为电压耐久性的目的是对主绝缘进行试验而不是应力控制结构(防晕结构)。如有疑间，应进行8.2h)所述的绝缘电阳测量以确定是否击穿，更多的信息见GB/T.4-第6章。

交流电压耐久性试验也应对没有循环的一组线棒/线圈进行试验以评定循环的影响。

在绝缘解剖后，推荐对击穿区域进行视觉检查，有助于确定主要的老化过程。